Saules fotoelektroenerģijas nozarē vafeļu tehnoloģiju pāreja notiek, pārejot no pseido laukuma156,75x156,75mm M2 lielākiem vafeļu izmēriem ar pilnu kvadrātu 158,75x158,75mm un tas ietver p-veida un n-veida mono-Si vafeles.
Mūsdienu Full Square Mono Waffers ir maksimāli palielinājis gaismas iedarbību līdz tā paša līmeņa vairākām vafelēm, paplašinot kvadrātveida izmēru. Plātnes vienmēr ir pilnībā kvadrātveida, lai tās optimāli ievietotu PV moduli.
1 Materiāla īpašības
Īpašums | Specifikācija | Pārbaudes metode |
Izaugsmes metode | CZ | |
Kristāliskums | Monokristālisks | Preferenciālās gravēšanas metodes（ASTM F47-88） |
Vadītspējas tips | N-veida | Napson EC-80TPN |
Dopants | Fosfors | - |
Skābekļa koncentrācija [Oi] | ≦8E+17 at / cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Oglekļa koncentrācija [Cs] | ≦5E+16 at / cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Gravēt bedres blīvums (dislokācijas blīvums) | ≦500 cm-3 | Preferenciālās gravēšanas metodes（ASTM F47-88） |
Virsmas orientācija | & 100> ± 3 ° | Rentgena difrakcijas metode (ASTM F26-1987) |
Pseido kvadrātveida sānu orientācija | & 010> ;,< 001=""> ± 3 ° | Rentgena difrakcijas metode (ASTM F26-1987) |
2 Elektriskās īpašības
Īpašums | Specifikācija | Pārbaudes metode |
Pretestība | 0,3-2,1 Ω.cm 1,0-7,0 Ω.cm | Vafeļu pārbaudes sistēma |
MCLT (mazākuma pārvadātāja kalpošanas laiks) | ≧ 1000 μs (pretestība 0,3-2,1 Ω.cm) | Sintons pārejošs |
3 Ģeometrija
Īpašums | Specifikācija | Pārbaudes metode |
Ģeometrija | Pilns laukums | |
Vafeļu sānu garums | 158,75 ± 0,25 mm | vafeļu pārbaudes sistēma |
Vafeļu diametrs | ~ 223 ± 0,25 mm | vafeļu pārbaudes sistēma |
Leņķis starp blakus esošajām pusēm | 90° ± 0.2° | vafeļu pārbaudes sistēma |
Biezums | 180 ﹢ 20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | vafeļu pārbaudes sistēma |
TTV (kopējā biezuma variācija) | ≤ 27 µm | vafeļu pārbaudes sistēma |
4 Virsmas īpašības
Īpašums | Specifikācija | Pārbaudes metode |
Griešanas metode | DW | -- |
Virsmas kvalitāte | kā sagriezti un notīrīti, nav redzamu piesārņojumu (eļļa vai tauki, pirkstu nospiedumi, ziepju traipi, vircas traipi, epoksīda / līmes traipi nav atļauti) | vafeļu pārbaudes sistēma |
Zāģu atzīmes / pakāpieni | ≤ 15µm | vafeļu pārbaudes sistēma |
Priekšgala | ≤ 40 µm | vafeļu pārbaudes sistēma |
Velku | ≤ 40 µm | vafeļu pārbaudes sistēma |
Čips | dziļums ≤0,3mm un garums ≤ 0,5mm Max 2 / gab. nav V mikroshēmas | Apbruņotas acis vai vafeļu pārbaudes sistēma |
Mikro plaisas / caurumi | Nav atļauts | vafeļu pārbaudes sistēma |
Populāri tagi: n tipa pilna kvadrāta monokristāliska saules plāksne, Ķīna, piegādātāji, ražotāji, rūpnīca, izgatavota Ķīnā
